比表面及孔径分析仪

名    称：比表面及孔径分析仪

型    号：3H-2000PS2型

功    能：用于真空容量法(真空静态法)、吸附及脱附等温线测定，BJH总孔体积及孔径分析，样品真密度测定，t-plot图法微孔分析，MP法微孔分析，HK法微孔分析，BET法比表面积测定(单点及多点)，Langmuir法比表面积测定，平均粒径估算，t－plot图法外比表面积测定等。

用    途：用于测定固废、粉末、颗粒、纤维及片状等材料的比表面积、孔径分布、真密度等特性，评估测试材料实用性能。

技术指标：具有2个样品预处理脱气站，2个样品分析站。重复性误差：＜±1%。测试范围：比表面0.0005m²/g以上；微孔：0.35～2nm；介孔：2～50nm；大孔：50～500nm。样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等可装入样品管的材料。测试气体:高纯N₂气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)。