比表面及孔径分析仪

发布时间:2018-08-02

    称:比表面及孔径分析仪

    号:3H-2000PS2

    能:用于真空容量法(真空静态法)、吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点)Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,tplot图法外比表面积测定等。

    途:用于测定固废、粉末、颗粒、纤维及片状等材料的比表面积、孔径分布、真密度等特性,评估测试材料实用性能。

技术指标:具有2个样品预处理脱气站,2个样品分析站。重复性误差:<±1%。测试范围:比表面0.0005m2/g以上;微孔:0.352nm;介孔:250nm;大孔:50500nm。样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。测试气体:高纯N2(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)

相关新闻